Strategii eficiente pentru analiza imunității la interferențe la nivel de placă de circuit

 

Dispozitivele complexe cu circuite integrate și tensiuni de alimentare scăzute eșuează din ce în ce mai mult testele de imunitate la zgomot. Localizarea și eliminarea punctelor slabe reprezintă o adevărată provocare în astfel de dispozitive complexe. Eliminarea rapidă, specifică și, prin urmare, rentabilă a punctelor slabe necesită strategii eficiente și echipamente adecvate pentru analiza sistematică a imunității la nivel de placă.

 

Leave a comment

Security code