Supresión de ESD en microcontroladores a nivel de placa

• Los circuitos del oscilador de cristal se bloquean durante varios microsegundos o milisegundos.
• La fuente de alimentación PLL se bloquea a la frecuencia máxima posible, lo que provoca un fallo del microcontrolador.

Análisis de fallos y métodos de prueba

Un fallo del microcontrolador se visualiza cuando el LED de vida se apaga. Las interferencias en el circuito del oscilador de cristal pueden provocar graves problemas de transmisión de datos.

Método de prueba

Para el análisis de fallos, se utiliza una fuente de campo que genera campos locales de la intensidad requerida. Las pruebas se realizan utilizando una fuente de campo que genera un haz de campo de aproximadamente 4 mm de diámetro.

Medidas de EMC para la resolución de problemas

Para aplicaciones prácticas, se pueden derivar las siguientes posibles soluciones:

• Mover el circuito integrado en la placa del microcontrolador para aumentar la distancia entre los circuitos PLL y del oscilador de cristal y el espaciador metálico.
• Modificar el diseño mecánico moviendo el espaciador metálico a una zona no crítica.
• Usar un espaciador de un material no conductor.
• Una carcasa de plástico que elimine la influencia del espaciador metálico.
• Blindar los circuitos integrados relevantes.
• Usar un circuito integrado adecuadamente robusto.

Conclusiones y recomendaciones

El programador debe tener experiencia en EMC y habilidades prácticas en el uso de fuentes de campo para Supresión de interferencias. En caso de problemas de EMC, también se recomienda asistir a seminarios experimentales o buscar la ayuda de consultores expertos en EMC.