L’avantage principal de l’analyse de l’immunité d’un appareil au niveau du circuit intégré est que ce type de test ne nécessite pas de prendre en compte l’influence de la conception du circuit sur la compatibilité électromagnétique (CEM). Une telle analyse n’inclut pas, par exemple, la conception du circuit imprimé, la nature et la disponibilité des connecteurs, ni le boîtier. L’article décrit la relation entre les tests au niveau de l’appareil et ceux au niveau du circuit intégré (CI).
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