La principal ventaja del análisis de la inmunidad del dispositivo a nivel de circuito integrado es que dicha prueba no requiere considerar la influencia del diseño del circuito en la compatibilidad electromagnética (EMC). Este tipo de análisis no incluye, por ejemplo, el diseño de la placa de circuito impreso, la naturaleza y disponibilidad de los conectores, ni la carcasa. El artículo describe la relación entre las pruebas a nivel de dispositivo y a nivel de circuito integrado (IC).
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